粒(li)子計(ji)數器的(de)技術要(yao)求(qiu)

粒(li)子計(ji)數器的(de)技術要(yao)求(qiu)

    目前(qian)塵埃粒(li)子計(ji)數器的(de)用戶(hu)越(yue)來越(yue)多，廣(guang)泛(fan)應用於醫藥(yao)、電子(zi)、精(jing)密機(ji)械、彩管(guan)制(zhi)造(zao)、微(wei)生物等(deng)行業(ye)中，實現對(dui)各(ge)種(zhong)潔(jie)凈(jing)等(deng)級的(de)工(gong)作(zuo)臺、凈(jing)化(hua)室(shi)、凈(jing)化(hua)車間的(de)凈(jing)化(hua)效(xiao)果(guo)、潔凈(jing)級(ji)別(bie)進(jin)行監控，以(yi)確(que)保(bao)產品(pin)的(de)質量(liang)。
　　
　　塵埃(ai)粒(li)子計(ji)數器是(shi)用來(lai)測(ce)量(liang)空(kong)氣中微粒(li)的(de)數量(liang)及(ji)大(da)小的(de)儀器，從(cong)而為(wei)空(kong)氣潔(jie)凈(jing)度的(de)評提(ti)供依據(ju)。常(chang)見的(de)塵埃(ai)粒(li)子計(ji)數器是(shi)光(guang)散射式的(de)，測(ce)量(liang)粒(li)徑範(fan)圍(wei)0.1，此外還有(you)凝(ning)聚(ju)核式(shi)的(de)塵埃(ai)粒(li)子計(ji)數器，測(ce)量(liang)尺(chi)寸(cun)更小的(de)塵埃(ai)粒(li)子。本文將(jiang)介紹(shao)光(guang)散射式塵埃(ai)粒(li)子計(ji)數器。
　　
    塵埃(ai)粒(li)子計(ji)數器的(de)測(ce)量(liang)值(zhi)有(you)兩(liang)種(zhong)表示方(fang)式：計(ji)方式(shi)和(he)分計(ji)方式(shi)，計(ji)方式(shi)指(zhi)測(ce)量(liang)值(zhi)為(wei)大(da)於等(deng)於該粒(li)徑的(de)粒(li)子數(shu)，分計(ji)方式(shi)指(zhi)測(ce)量(liang)值(zhi)為(wei)大(da)於等(deng)於該粒(li)徑同(tong)時又(you)小於下(xia)壹(yi)相(xiang)鄰粒(li)徑的(de)粒(li)子數(shu)。

   儀器在開始(shi)采(cai)樣前(qian)應先(xian)自凈(jing)，以(yi)確(que)保(bao)儀器內(nei)部無(wu)殘(can)留粒(li)子。采(cai)樣時(shi)壹(yi)要(yao)用等(deng)動能(neng)取樣頭(tou)，並註(zhu)意采(cai)樣管(guan)不要(yao)堵塞、彎(wan)死(si)，采(cai)樣管(guan)不要(yao)太(tai)長(chang)。 儀器禁止抽取高濃度粒(li)子的(de)氣體(ti)（如(ru)較(jiao)臟(zang)的(de)空(kong)氣）及(ji)含有(you)水氣、油(you)氣(qi)、腐蝕(shi)性(xing)氣(qi)體(ti)進人儀器，否則(ze)將(jiang)汙染(ran)儀器氣(qi)路、光(guang)路器件(jian)，甚(shen)至造成*損壞。 按(an)照(zhao)國家(jia)計(ji)量檢(jian)規程要(yao)求(qiu)，儀器的(de)自凈(jing)時(shi)間(jian)應小於20min，測(ce)量(liang)準(zhun)確(que)度應小於40%，測(ce)量(liang)重(zhong)復(fu)性(xing)應小於20%