粒(li)度(du)測(ce)試的幾種方法(fa)介紹

粒(li)度(du)儀測(ce)試的幾種方法(fa)介紹

粒(li)度(du)測(ce)試的方法(fa)很(hen)多(duo)，具(ju)統(tong)計有(you)上百種。目(mu)前(qian)常(chang)用(yong)的有(you)沈降法(fa)、激(ji)光(guang)法(fa)、篩分法(fa)、圖像(xiang)法(fa)和(he)電阻(zu)法(fa)五種(zhong)，另(ling)外還有(you)幾種在特行業(ye)和(he)領域中(zhong)常用(yong)的測(ce)試方法(fa)。
1、沈降法(fa)： 

沈降法(fa)是(shi)根(gen)據(ju)不同(tong)粒(li)徑的顆粒(li)在液(ye)體(ti)中(zhong)的沈降速度不同(tong)測(ce)量粒(li)度(du)分布(bu)的壹(yi)種(zhong)方法(fa)。它(ta)的基本(ben)過程(cheng)是(shi)把(ba)樣(yang)品(pin)放到(dao)某種(zhong)液體(ti)中(zhong)制成壹濃(nong)度的懸浮(fu)液(ye)，懸浮(fu)液(ye)中(zhong)的顆粒(li)在重(zhong)力(li)或離(li)心(xin)力(li)作(zuo)用(yong)下(xia)將發(fa)生(sheng)沈降。
2、激光(guang)法(fa)： 

激光(guang)粒(li)度(du)儀作(zuo)為(wei)壹(yi)種(zhong)新(xin)型(xing)的粒(li)度(du)測(ce)試儀器(qi)，已(yi)經在粉(fen)體(ti)加(jia)工、應(ying)用(yong)與研(yan)究領域得(de)到(dao)廣(guang)泛(fan)的應(ying)用(yong)。它(ta)的特點是(shi)測(ce)試速度快(kuai)、測(ce)試範(fan)圍(wei)寬(kuan)、重復(fu)性和(he)真實性好(hao)、操(cao)作(zuo)簡(jian)便(bian)等(deng)等(deng)。 

3、篩分法(fa)： 

篩分法(fa)是(shi)壹(yi)種(zhong)傳統(tong)的粒(li)度(du)測(ce)試方法(fa)。它(ta)是(shi)使(shi)顆粒(li)通過不(bu)同(tong)尺寸(cun)的篩孔來(lai)測(ce)試粒(li)度(du)的。篩分法(fa)分幹(gan)篩和(he)濕篩兩(liang)種(zhong)形式，以(yi)用(yong)單個(ge)篩子(zi)來(lai)控(kong)制單壹粒(li)徑顆粒(li)的通過率(lv)，也(ye)以(yi)用(yong)多(duo)個(ge)篩子(zi)疊(die)加(jia)起(qi)來(lai)同(tong)時(shi)測(ce)量多(duo)個(ge)粒(li)徑顆粒(li)的通過率(lv)，並計算出(chu)百(bai)分數(shu)。篩分法(fa)有(you)手(shou)工篩、振(zhen)動篩、負壓篩、自動篩等(deng)多(duo)種(zhong)方式(shi)。顆粒(li)能(neng)否(fou)通過篩幾與顆粒(li)的取向(xiang)和(he)篩分時(shi)間等(deng)素因(yin)素有(you)關(guan)，不同(tong)的行業(ye)有各(ge)自的篩分方法(fa)標(biao)準(zhun)。 

4、電阻(zu)法(fa)： 

電阻(zu)法(fa)又(you)叫庫爾特法(fa)，是(shi)由(you)美(mei)國壹個(ge)叫庫爾特的人(ren)發(fa)明(ming)的壹(yi)種(zhong)粒(li)度(du)測(ce)試方法(fa)。這(zhe)種(zhong)方法(fa)是(shi)根(gen)據(ju)顆粒(li)在通過壹(yi)個小微孔的瞬(shun)間，占據(ju)了(le)小微孔中(zhong)的部(bu)分空(kong)間而排(pai)開了(le)小微孔中(zhong)的導(dao)電液(ye)體(ti)，使(shi)小微孔兩(liang)端的電(dian)阻(zu)發(fa)生(sheng)變化的原(yuan)理測(ce)試粒(li)度(du)分布(bu)的。小孔兩(liang)端的電(dian)阻(zu)的大(da)小與顆粒(li)的體(ti)積成(cheng)正比(bi)。當不(bu)同(tong)大(da)小的粒(li)徑顆粒(li)連(lian)續通過小微孔時(shi)，小微孔的兩(liang)端將連(lian)續產生(sheng)不同(tong)大(da)小的電(dian)阻(zu)信(xin)號(hao)，通過計算機對(dui)這(zhe)些電阻(zu)信(xin)號(hao)進(jin)行處理就以得(de)到(dao)粒(li)度(du)分布(bu)了(le)。 
5、顯微(wei)圖象法(fa)： 

顯微(wei)圖象法(fa)包括(kuo)顯微(wei)鏡、CCD攝(she)像(xiang)頭(tou)（或數(shu)碼(ma)像(xiang)機）、圖形采集(ji)卡、計算機等(deng)部(bu)分組(zu)成(cheng)。它(ta)的基本(ben)工作(zuo)原(yuan)理是(shi)將(jiang)顯微(wei)鏡放大(da)後(hou)的顆粒(li)圖像(xiang)通過CCD攝(she)像(xiang)頭(tou)和(he)圖形采集(ji)卡傳輸(shu)到(dao)計算機中(zhong)，由計算機對(dui)這(zhe)些圖像(xiang)進(jin)行邊(bian)緣識(shi)別(bie)等(deng)處理，計算出(chu)每(mei)個(ge)顆粒(li)的投(tou)影面積，根(gen)據(ju)等(deng)效投影面積原(yuan)理得出(chu)每(mei)個(ge)顆粒(li)的粒(li)徑，再(zai)統(tong)計出(chu)所設的粒(li)徑區間的顆粒(li)的數(shu)量(liang)，就以得(de)到(dao)粒(li)度(du)分布(bu)了(le)。