如(ru)何(he)判斷激(ji)光(guang)粒度分(fen)析儀(yi)的優(you)劣（上(shang)篇(pian)）

判斷激(ji)光(guang)粒度分(fen)析儀(yi)的優(you)劣，主要(yao)看(kan)其(qi)以(yi)下(xia)幾(ji)個(ge)方(fang)面： 
    1　粒度測(ce)量範圍　　粒度範圍寬，適(shi)合的應(ying)用廣(guang)。不(bu)僅(jin)要(yao)看(kan)其(qi)儀(yi)器(qi)所(suo)報出的(de)範圍，而(er)是看(kan)超(chao)出主檢測(ce)器(qi)面積(ji)的小粒子(zi)散(san)射(she)(<0.5μm>如(ru)何(he)檢測(ce)。的(de)途徑(jing)是範圍直(zhi)接檢測(ce)，這(zhe)樣才能保證本(ben)底(di)扣(kou)除(chu)的壹(yi)致(zhi)性。不(bu)同(tong)方法的混(hun)合測(ce)試，再(zai)用計(ji)算機(ji)擬(ni)合成壹(yi)張(zhang)圖(tu)譜，肯(ken)帶來誤差。 

    2　激(ji)光(guang)光(guang)源(yuan)　　壹(yi)般(ban)選(xuan)用2mW激(ji)光(guang)器(qi)，功(gong)率(lv)太(tai)小則散(san)射(she)光(guang)能量低(di)，造成靈(ling)敏(min)度低(di)；另外，氣(qi)體(ti)光(guang)源(yuan)波(bo)長短(duan)，穩性優(you)於固體(ti)光(guang)源(yuan)。 

    3  檢測(ce)器(qi)  因(yin)為(wei)激(ji)光(guang)衍射(she)光(guang)環(huan)半(ban)徑(jing)越(yue)大，光(guang)強越(yue)弱(ruo)，極(ji)易(yi)造成小粒子(zi)信/噪(zao)比(bi)降(jiang)低(di)而(er)漏(lou)檢，所(suo)以(yi)對(dui)小粒子(zi)的(de)分(fen)布檢測(ce)能(neng)體現儀(yi)器(qi)的(de)好壞。檢測(ce)器(qi)的(de)發(fa)展(zhan)經(jing)歷(li)了圓(yuan)形，半(ban)圓(yuan)形和(he)扇(shan)形幾(ji)個(ge)階(jie)段。 

    3.1　英國(guo)馬爾(er)文(wen)公司(si)壹(yi)代的檢測(ce)器(qi) 

　　采(cai)用(yong)非(fei)均勻(yun)交(jiao)叉(cha)排(pai)列(lie)三(san)維扇(shan)形(xing)檢測(ce)系統(tong)，實(shi)際分(fen)辨(bian)率(lv)，無(wu)信號盲(mang)區，相當於環(huan)形(xing)或十(shi)字星(xing)形(xing)排(pai)列(lie)的(de)175個(ge)，半(ban)圓(yuan)形排列的(de)93個(ge)，使直(zhi)接檢測(ce)角(jiao)達(da)到(dao)135度。 

    3.2　通(tong)道(dao)數 

　　在(zai)激光(guang)粒度分(fen)析儀(yi)中不(bu)象(xiang)計(ji)數器(qi)中存(cun)在(zai)通(tong)道(dao)的概念，它實(shi)際為(wei)檢測(ce)器(qi)受光(guang)面積(ji)數。它(ta)有壹(yi)個(ge)理(li)論(lun)與(yu)實(shi)際的優(you)化(hua)值(zhi)：偏少(shao)：接(jie)受的散射光(guang)不(bu)充(chong)分(fen)，準確(que)度差(cha)；偏多(duo)：靈(ling)敏(min)度太高，導致(zhi)重(zhong)現(xian)性差(cha)。 

　　為(wei)彌補(bu)采樣(yang)速度(du)慢的缺陷(xian)，壹些廠(chang)家才使用(yong)更多(duo)的通(tong)道(dao)，以損(sun)失(shi)重(zhong)現性而(er)達(da)到(dao)靈(ling)敏(min)度要(yao)求，所(suo)以(yi)，這樣的(de)測(ce)量時(shi)間在(zai)20秒或1分(fen)鐘以上(shang)。 

　
    4　是否(fou)使用(yong)完(wan)的(de)米氏理(li)論：因(yin)為(wei)米氏光(guang)散理(li)論非(fei)常復雜(za)，數(shu)據處理(li)量大(da)，所以有(you)些(xie)廠(chang)家忽略顆(ke)粒本身(shen)折光(guang)和(he)吸(xi)收等(deng)光(guang)學性質，采(cai)用近似的(de)米氏理(li)論，造(zao)成適(shi)用範圍受限制(zhi)，漏(lou)檢幾(ji)率(lv)增(zeng)大(da)等(deng)問題。 

    5　準確(que)性和(he)重(zhong)復性指(zhi)標(biao)越高越(yue)好。采用NIST標準粒子(zi)檢測(ce)。 

    6　穩性：儀(yi)器(qi)穩性包(bao)括(kuo)光(guang)路的(de)穩性和(he)分(fen)散系統(tong)的穩性和(he)周圍環(huan)境(jing)的(de)影響(xiang)。壹般(ban)來(lai)講(jiang)選(xuan)用氣(qi)體(ti)激光(guang)器(qi)，使用(yong)光(guang)學平(ping)臺(tai)，有(you)助(zhu)於光(guang)路的(de)穩。內部(bu)發(fa)熱(re)部(bu)件(jian)(如(ru)50瓦(wa)的鎢燈)將影響(xiang)光(guang)路周圍環(huan)境(jing)。 

　　穩性指(zhi)標(biao)在(zai)廠(chang)家儀(yi)器(qi)說明中沒有，用戶(hu)只能(neng)憑對(dui)於儀(yi)器(qi)結(jie)構(gou)的(de)判斷和(he)參(can)觀(guan)或詢問其他長時(shi)間使用(yong)過的用(yong)戶(hu)來判斷。