ATI過(guo)濾(lv)系(xi)統常出現(xian)的故(gu)障解(jie)決(jue)方法

ATI過(guo)濾(lv)系(xi)統常出現(xian)的故(gu)障解(jie)決(jue)方法

故(gu)障排除(chu)方法：

   表 現(xian)                                   原 因(yin)

         控制器(qi)不(bu)顯示                 沒有插上合(he)適的電(dian)源(yuan)

                                              保(bao)險絲熔斷(duan)

                                              電源開關(guan)處在關(guan)閉（OFF）位(wei)置

                                              控制器(qi)損(sun)壞

         綠(lv)色準備(bei)燈不(bu)亮               允(yun)許足夠時間預(yu)熱

                                              簡形加熱器損(sun)壞

                                              溫度控制繼(ji)電器損(sun)壞

                                              溫度控制器損(sun)壞

         沒有氣(qi)溶(rong)膠(jiao)發出               蓄(xu)液裝置是空的

                                              氣溶(rong)膠(jiao)開關(guan)處在關(guan)閉（OFF）位(wei)置

                                              惰(duo)性(xing)氣體(ti)壓(ya)縮不(bu)正(zheng)常

                                              加熱元(yuan)件被(bei)阻(zu)塞(sai)

         氣溶(rong)膠(jiao)氣(qi)流不(bu)穩            內(nei)部(bu)調(tiao)節器損(sun)壞

                                              惰(duo)性(xing)氣體(ti)壓(ya)縮不(bu)正(zheng)確(que)

                                              內(nei)部(bu)流量(liang)設(she)置不(bu)正(zheng)確(que)

                                              溫度設置不(bu)正(zheng)確(que)

                                              加熱元(yuan)件部(bu)分(fen)被(bei)阻(zu)塞(sai)

改(gai)變設(she)置，步驟如下(xia)：

• 關(guan)閉儀(yi)器並(bing)且斷(duan)開電(dian)源(yuan)連接。
• 待儀(yi)器充分(fen)變涼(liang)後(hou)，將機(ji)箱側(ce)面(mian)上的(de)四(si)個(ge)螺絲(si)擰下(xia)，取(qu)下(xia)頂(ding)部(bu)的蓋子。
• 調(tiao)節器位(wei)於加(jia)熱元件的(de)前(qian)面(mian)。調(tiao)節流量(liang)，先(xian)打(da)開氣(qi)溶(rong)膠(jiao)開關(guan)並且完(wan)打(da)開測(ce)量(liang)閥(fa)門(men)。轉動(dong)調(tiao)節器閥門(men)並且通(tong)過(guo)連(lian)續(xu)在(zai)氣(qi)溶(rong)膠(jiao)輸出模(mo)塊上的(de)壹(yi)個(ge)流量(liang)測(ce)量(liang)儀(yi)對(dui)流量(liang)進(jin)行(xing)檢(jian)測(ce)。
• 改(gai)變流量(liang)後(hou)，溫(wen)度控制器模(mo)塊(kuai)操(cao)作點必(bi)須被(bei)改(gai)變。
• 重(zhong)新安裝儀(yi)器並(bing)進行(xing)測(ce)試(shi)。