美國(guo)HIAC顆(ke)粒(li)度儀高粘(zhan)度(du)樣(yang)品(pin)的測(ce)試

美國(guo)HIAC顆(ke)粒(li)度儀高粘(zhan)度(du)樣(yang)品(pin)的測(ce)試

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    大(da)型(xing)汽(qi)輪機用(yong)抗(kang)燃(ran)油(you)本(ben)身具有較好(hao)的(de)穩(wen)性(xing)能(neng)，但當各(ge)種(zhong)雜物(wu)混入油(you)系統後(hou)都(dou)會(hui)給油造(zao)成汙染，破(po)壞油(you)的(de)性(xing)能(neng)指標(biao)。尤(you)其(qi)固(gu)體(ti)顆(ke)粒(li)的存(cun)在(zai)構(gou)成了特殊的(de)危 險(xian)性(xing)。因油中(zhong)固(gu)體(ti)顆(ke)粒(li)過多(duo)而(er)發(fa)生(sheng)的(de)調(tiao)節(jie)系統和(he)潤(run)滑(hua)系統故障(zhang)是(shi)*的。由此知，控制(zhi)油(you)系統中(zhong)顆(ke)粒(li)的數(shu)量是(shi)極其(qi)重要的工作。

高粘(zhan)度(du)樣(yang)品(pin)的測(ce)試： 

(1)都(dou)是(shi)實驗室儀器，油(you)樣(yang)必(bi)須(xu)從各(ge)臺機組取(qu)樣(yang)後(hou)，送(song)到實(shi)驗室化驗。這(zhe)樣(yang)待(dai)測(ce)樣(yang)品(pin)粘(zhan)度(du)與環(huan)境(jing)溫(wen)度(du)有直接關(guan)系。在冬(dong)季由於溫(wen)度(du)較低(di)，油(you)的(de)粘(zhan)度(du)增(zeng)大(da)。特別是(shi)抗(kang)燃(ran)油(you)的粘(zhan)度(du) 本(ben)身就(jiu)大，在(zai)冬(dong)天測(ce)試時(shi)它(ta)的(de)粘(zhan)度(du)就(jiu)更大。

(2) 真(zhen)空(kong)泵的(de)值都(dou)有壹(yi)的限度，當(dang)樣(yang)品(pin)的粘(zhan)度(du)很(hen)大時，液(ye)體(ti)的(de)流(liu)速達不(bu)到規(gui)值(zhi)，測(ce)試結(jie)果(guo)就(jiu)會(hui)出(chu)現(xian)較大(da)誤差(cha)。相比(bi)而(er)言，HIAC型(xing)顆(ke)粒(li)度測(ce)試儀的誤(wu)差(cha)更大，因(yin)為它(ta)的(de)壓 力(li)基(ji)數(shu)值(zhi)變(bian)化較大(da)。

(3) 解(jie)決高粘(zhan)度(du)樣(yang)品(pin)的測(ce)試的(de)方(fang)法有兩種(zhong)：即對(dui)樣(yang)品(pin)加熱(re)和(he)對(dui)樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)稀釋(shi)。由於缺(que)乏(fa)標(biao)準的稀釋(shi)液(ye)，對(dui)樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)稀釋(shi)的方(fang)法在現(xian)階(jie)段無(wu)法實現(xian)。因此(ci)我(wo)們(men)采(cai)用(yong)加熱(re)樣(yang)品(pin)的方(fang)法對(dui)粘(zhan)度(du) 樣(yang)品(pin)(加熱(re)到50℃)的(de)進(jin)行(xing)測(ce)試。

(4)利(li)用(yong)HIAC 顆(ke)粒(li)計數(shu)儀測(ce)試加(jia)熱(re)後(hou)的(de)樣(yang)品(pin)能(neng)夠達到較好(hao)的(de)準確(que)度(du)。這(zhe)是(shi)因為(wei)此儀器的(de)測(ce)試時(shi)間(jian)短，只要真空泵能(neng)將(jiang)樣(yang)品(pin)順利(li)地抽(chou)入測(ce)試區(qu)，就(jiu)以(yi)準確(que)地測(ce)出(chu)其(qi)中(zhong)的顆(ke)粒(li)度。

(5)COURTⅡ型(xing)儀在測(ce)試過程中(zhong)流體(ti)壓力(li)的變(bian)化直接與流(liu)速(su)有關(guan)，加熱(re)後(hou)的(de)樣(yang)品(pin)進(jin)入儀器導(dao)致整(zheng)個(ge)測(ce)試系統溫(wen)度(du)不(bu)均(jun)勻，產生了(le)壓力(li)誤差(cha)，從而(er)測(ce)出(chu)的(de)數(shu)據(ju)出(chu)現(xian)較大(da)誤差(cha)，從而(er)測(ce)出(chu)的(de)數(shu) 據(ju)出(chu)現(xian)較大(da)誤差(cha)。

(6)高粘(zhan)度(du)樣(yang)品(pin)的測(ce)試，應在對(dui)樣(yang)品(pin)加熱(re)後(hou)，利(li)用(yong)HIAC/ROYCO顆(ke)粒(li)計數(shu)儀測(ce)試。