顆粒(li)計(ji)數器的(de)校(xiao)準(zhun)維(wei)護

1、粒(li)子(zi)計(ji)數器是國家規的(de)計量器具(ju)，在(zai)使用(yong)壹(yi)段時(shi)間後(hou)，其光(guang)學系(xi)統(tong)及(ji)檢測(ce)系(xi)統(tong)都(dou)會(hui)發生(sheng)變(bian)化，如(ru)光(guang)源(yuan)老(lao)化(hua)、發光(guang)效(xiao)率(lv)降低(di)或(huo)聚焦錯(cuo)位、透鏡(jing)被汙(wu)染，從而使整(zheng)機(ji)的(de)轉(zhuan)換(huan)靈(ling)敏(min)度變(bian)化。因(yin)此需按(an)JJF1190-2008《塵埃(ai)粒(li)子(zi)計(ji)數器校(xiao)準(zhun)規範》的(de)要求每(mei)年(nian)期(qi)到國家空調(tiao)設(she)備質量監督(du)檢(jian)驗中心或(huo)者中(zhong)國建(jian)築(zhu)科學研究(jiu)院(yuan)建(jian)築(zhu)能(neng)源(yuan)與環境檢(jian)測(ce)中(zhong)心進(jin)行期(qi)校(xiao)準(zhun)，並根(gen)據(ju)其出(chu)具(ju)法(fa)校(xiao)準(zhun)證(zheng)書對儀器各(ge)方(fang)面(mian)進行調(tiao)整(zheng)以(yi)獲得(de)佳(jia)工(gong)作狀(zhuang)態(tai)。

2、儀器的(de)工(gong)作位(wei)置和采樣(yang)管(guan)的(de)進氣口(kou)應(ying)處(chu)於同壹(yi)氣壓(ya)和同壹(yi)溫(wen)度下，以(yi)免影(ying)響氣(qi)路系(xi)統(tong)工(gong)作和產生(sheng)凝(ning)露二損壞光學系(xi)統(tong)。若必須再(zai)有壓(ya)差的(de)情況下工(gong)作，則大(da)壓差(cha)不(bu)超過(guo)200Pa在(zai)有壓(ya)差和溫(wen)度的(de)條件下工(gong)作，會(hui)增(zeng)大(da)測量誤差(cha)，甚(shen)至(zhi)損壞(huai)儀器。

3、搬(ban)運(yun)儀器時(shi)，應(ying)輕搬輕放，少(shao)受(shou)震動(dong)，放(fang)在(zai)包箱(xiang)內。