激光顆粒(li)計數(shu)器(qi)的(de)校準(zhun)維(wei)護(hu)

1、激(ji)光顆粒(li)計數(shu)器(qi)是國家(jia)規的(de)計量(liang)器(qi)具(ju)，在(zai)使(shi)用(yong)壹(yi)段時間(jian)後(hou)，其(qi)光學系統及(ji)檢(jian)測(ce)系統都會發生變(bian)化，如(ru)光源(yuan)老(lao)化、發光效率降低或(huo)聚(ju)焦錯(cuo)位(wei)、透鏡被汙染，從(cong)而(er)使整(zheng)機的(de)轉換(huan)靈(ling)敏(min)度(du)變(bian)化。因(yin)此需按JJF1190-2008《塵埃粒(li)子計數(shu)器(qi)校準(zhun)規(gui)範(fan)》的(de)要求每年期到國(guo)家(jia)空調(tiao)設(she)備質量監督(du)檢(jian)驗(yan)中心或(huo)者(zhe)中國建(jian)築(zhu)科(ke)學研究(jiu)院(yuan)建(jian)築(zhu)能(neng)源(yuan)與(yu)環(huan)境檢(jian)測(ce)中心進(jin)行(xing)期校準(zhun)，並(bing)根(gen)據其(qi)出(chu)具(ju)法(fa)校準(zhun)證(zheng)書(shu)對(dui)儀(yi)器(qi)各(ge)方(fang)面(mian)進(jin)行(xing)調(tiao)整(zheng)以(yi)獲(huo)得(de)佳工(gong)作狀(zhuang)態(tai)。 　　

2、儀(yi)器(qi)的(de)工作位(wei)置和采(cai)樣管(guan)的(de)進(jin)氣(qi)口(kou)應處(chu)於(yu)同壹(yi)氣(qi)壓(ya)和同(tong)壹(yi)溫度下(xia)，以(yi)免(mian)影(ying)響(xiang)氣路系統工(gong)作和產(chan)生(sheng)凝露二損壞(huai)光學系統。若(ruo)必須(xu)再(zai)有(you)壓(ya)差(cha)的(de)情(qing)況(kuang)下工(gong)作，則(ze)大壓(ya)差(cha)不超過(guo)200Pa在(zai)有(you)壓(ya)差(cha)和溫度的(de)條(tiao)件(jian)下(xia)工(gong)作，會增大測(ce)量誤(wu)差，甚至(zhi)損壞(huai)儀(yi)器(qi)。 　　

3、搬運(yun)儀(yi)器(qi)時，應輕搬輕放(fang)，少受震(zhen)動(dong)，放在(zai)包(bao)箱(xiang)內。