美(mei)國(guo)PTI試(shi)驗(yan)粉(fen)塵粒(li)徑分布

· 美(mei)國(guo)亞(ya)利(li)桑(sang)那(na)試(shi)驗(yan)粉(fen)塵#IEC 60312試(shi)驗(yan)粉(fen)塵#ISO 12103試(shi)驗(yan)粉(fen)塵 韓(han)國ITC沙(sha)塵(chen)試(shi)驗(yan)箱ISO 12103-1 A1 Ultrafine Test Dust；ISO 12103-1 A2 Fine Test Dust；ISO 12103-1 A3 Medium Test Dust ISO 12103-1；A4 Coarse Test Dust 
· 1992年4月(yue)，ISO/TC 22 成員批(pi)準了(le)新的工(gong)作(zuo)項目(mu)提議(yi) N1712：濾清器性能(neng)試(shi)驗(yan) —— 試(shi)驗(yan)粉(fen)塵的義(yi)。 當年晚(wan)些時候，ISO/TC22/SC7/WG3開始起(qi)草(cao)ISO標準開(kai)發階(jie)段(duan)的粗(cu)稿。 
· ISO 12103-1 道路交(jiao)通(tong)工(gong)具(ju)——用(yong)於濾清器評(ping)估(gu)的試(shi)驗(yan)粉(fen)塵 
· *部(bu)分：1997年12月(yue)15日(ri)，亞利(li)桑那(na)試(shi)驗(yan)粉(fen)塵(Arizona Test Dust)*版(ban)發布(bu)。其(qi)中(zhong)規了(le)四種(zhong)精(jing)度等(deng)級的試(shi)驗(yan)粉(fen)塵，包(bao)括粉(fen)塵描(miao)述、名稱(cheng)、顆粒(li)尺(chi)寸分布，顆(ke)粒尺(chi)寸分布的檢測程(cheng)序(xu)及(ji)化(hua)學(xue)成分。設立(li)單用(yong)於描(miao)述(shu)試(shi)驗(yan)粉(fen)塵的ISO標(biao)準的目(mu)的是(shi)為(wei)其(qi)他(ta)使(shi)用(yong)到試(shi)驗(yan)粉(fen)塵的標(biao)準或(huo)技術文檔(dang)提供壹(yi)種(zhong)簡單(dan)且的試(shi)驗(yan)粉(fen)塵使(shi)用(yong)參考(kao)。ISO 12103-1以後(hou)的修(xiu)訂(ding)將視(shi)未來(lai)發生(sheng)的生(sheng)產(chan)過程(cheng)工(gong)藝的變(bian)更和產(chan)品(pin)穩性問題而(er)進(jin)行(xing)。 
· Multisizer IIe 顆粒尺寸分析儀(yi)。 Multisizer IIe 顆粒尺(chi)寸分析儀(yi)立(li)測量顆(ke)粒(li)體積(ji)(質量)。被分析的顆(ke)粒懸(xuan)浮(fu)於電(dian)解液(ye)中(zhong)。懸浮(fu)物在電(dian)解液(ye)中(zhong)被攪(jiao)動(dong)並通(tong)過負(fu)壓源(yuan)吸(xi)取(qu)出(chu)來(lai)，在其(qi)通(tong)過微(wei)孔(kong)的時候即被測量了(le)尺(chi)寸。ISO 12103-1標準中(zhong)按累計(ji)體積(ji)百分比描(miao)述(shu)的顆(ke)粒尺(chi)寸比下(xia)表(biao)中(zhong)的小(xiao)：