美國(guo)ATI產塵儀(yi)（TDA-2H）

美國(guo)ATI產塵儀(yi)（TDA-2H）

美國(guo)ATI高效(xiao)過(guo)濾(lv)器完整性檢(jian)測(ce)儀 / 高效(xiao)過(guo)濾(lv)器泄露(lu)檢(jian)測(ce)儀 / 潔凈房粉塵儀

便攜性新型(xing)T美(mei)國(guo)ATI產塵儀(yi)（TDA-2H）粉塵儀，大(da)大(da)提高了(le)它的(de)便攜性和(he)使(shi)用(yong)性能(neng)。整(zheng)部儀器向(xiang)上傾斜(xie)，方便操作(zuo)者(zhe)觀(guan)察(cha)數據和(he)控制面(mian)板(ban)。 

微(wei)處理控制技(ji)術 
采(cai)用(yong)微(wei)處(chu)理控制，僅僅通(tong)過(guo)7個(ge)按健便以輕(qing)易(yi)編(bian)寫(xie)程(cheng)序(xu)和(he)操作(zuo)。數字顯(xian)示“幫助(zhu)菜單"和(he)“診斷(duan)代(dai)碼(ma)"更(geng)加(jia)方(fang)便操作(zuo)人(ren)員(yuan)。 
   
TDA-2H以自(zi)動進行歸(gui)檔(dang)（6組(zu)），完免(mian)除(chu)了(le)手動的麻(ma)煩(fan)，數字顯(xian)示泄漏(lou)百(bai)分率(lv)析(xi)像(xiang)度由(you)100.00%到(dao)0.0001% 。 
高密(mi)度線(xian)條(tiao)圖(tu)以使(shi)操(cao)作(zuo)者快(kuai)速測(ce)泄露(lu)點(dian)，自(zi)動歸(gui)檔(dang)數字顯(xian)示提供了(le)特別(bie)準(zhun)確的懸(xuan)浮(fu)微粒(li)子(zi)百(bai)分比濃(nong)度和(he)泄漏(lou)百(bai)分比，數字顯(xian)示亮度調(tiao)節。 
懸(xuan)浮(fu)微粒(li)子(zi)上遊濃(nong)度和(he)下(xia)遊0%濃(nong)度底線(xian)以通(tong)過(guo)和(he)0%按鍵自(zi)動設(she)，免除(chu)了(le)其(qi)它(ta)方法(fa)的(de)附(fu)帶設(she)。 
聲(sheng)音(yin)及視(shi)像(xiang)的報(bao)警(jing)設(she)簡(jian)易(yi)快(kuai)速地(di)預設(she)或取(qu)消(xiao)，當達(da)到(dao)報(bao)警(jing)點(dian)時(shi)，顯(xian)示面板(ban)和(he)探頭會(hui)閃(shan)亮。 
當采(cai)用(yong)不(bu)同(tong)的(de)懸(xuan)浮(fu)微粒(li)子(zi)劑(ji)時，有3個預設(she)程(cheng)序(xu)的(de)參考數值，操(cao)作者快(kuai)速選(xuan)擇符(fu)合(he)不同測(ce)試(shi)要求的DOP、PAO或其(qi)他懸(xuan)浮(fu)微粒(li)子(zi)劑(ji)。 

TDA-2H 
（包括(kuo)電(dian)線(xian)和(he)操作手冊(ce)）外(wai)殼(ke)采(cai)用(yong)堅(jian)固(gu)的模註鋁(lv)材(cai)，適用(yong)於(yu)工(gong)業(ye)及實(shi)驗(yan)室環境(jing)。掃描(miao)探頭包括(kuo)所(suo)附(fu)屬的(de)連(lian)接(jie)管(guan)和(he)管(guan)嘴，是(shi)機器的選配(pei)件(jian)。 
TDA-2H備有自(zi)動電壓轉換(huan)，適用(yong)於(yu)各(ge)地(di)電(dian)壓(ya)。電源線(xian)隨(sui)機配(pei)備，請(qing)註明插(cha)頭形式。 

TDA-2HN 
TDA-2H提供另(ling)壹種核(he)子(zi)版本(ben)TDA-2HN，功(gong)能(neng)、尺(chi)寸和TDA-2H相(xiang)同(tong)，附(fu)加(jia)了(le)壹個(ge)核(he)子(zi)散射(she)樣品(pin)室(shi)和壹個(ge)額外(wai)的(de)HEPA過(guo)濾(lv)器，避免(mian)了(le)汙(wu)染其(qi)他內(nei)部部件(jian)，特別(bie)的(de)設(she)計允(yun)許(xu)快(kuai)速更(geng)換(huan)重(zhong)要部件(jian)。掃描(miao)探頭為選件(jian)。