美(mei)國試(shi)驗粉塵,MIL810G blowing Dust

美(mei)國(guo)試(shi)驗粉塵,MIL810G blowing Dust

• 道(dao)路交(jiao)通工具(ju)——用(yong)於(yu)濾(lv)清器評估的(de)試(shi)驗粉塵 
• 亞(ya)利(li)桑那(na)試(shi)驗粉塵(Ariona Test Dust)*版(ban)發布。其(qi)中規了(le)四(si)種(zhong)精度(du)等(deng)級(ji)的(de)試(shi)驗粉塵，包(bao)括(kuo)粉(fen)塵(chen)描(miao)述、名稱(cheng)、顆(ke)粒尺(chi)寸(cun)分(fen)布(bu)，顆粒尺(chi)寸(cun)分(fen)布(bu)的檢測(ce)程(cheng)序及(ji)化(hua)學(xue)成分。設立單(dan)用(yong)於(yu)描(miao)述試(shi)驗粉塵的(de)ISO標準(zhun)的目(mu)的(de)是(shi)為其他(ta)使用(yong)到試(shi)驗粉塵的(de)標準(zhun)或技術(shu)文檔(dang)提(ti)供壹(yi)種(zhong)簡單(dan)且(qie)的試(shi)驗粉塵使(shi)用(yong)參(can)考。ISO 12103-1以後的(de)修(xiu)訂將(jiang)視(shi)未(wei)來(lai)發(fa)生(sheng)的(de)生(sheng)產過(guo)程(cheng)工藝(yi)的變(bian)更和產品穩(wen)性問(wen)題(ti)而進行。 
• Multisier IIe 顆(ke)粒尺(chi)寸(cun)分(fen)析(xi)儀。 Multisier IIe 顆粒尺(chi)寸(cun)分(fen)析(xi)儀立測量顆(ke)粒體(ti)積(ji)(質量)。被(bei)分析(xi)的顆(ke)粒懸(xuan)浮(fu)於(yu)電(dian)解液(ye)中。懸(xuan)浮(fu)物在(zai)電(dian)解液(ye)中被(bei)攪動並通過(guo)負壓(ya)源吸取出來(lai)，在(zai)其(qi)通過(guo)微孔(kong)的(de)時(shi)候即(ji)被(bei)測量了(le)尺(chi)寸(cun)。美(mei)國(guo)試(shi)驗粉塵,MIL810G blowing Dust標準(zhun)中按(an)累計體(ti)積百分(fen)比描述的顆(ke)粒尺(chi)寸(cun)比下表中(zhong)的小(xiao)：

• 典(dian)型的(de)化(hua)學(xue)成分分析(xi)

   

   

  化(hua)學(xue)成分	重量百分(fen)比	化(hua)學(xue)成分	重量百分(fen)比
  Si02	68 - 76	Ca0	2.0 - 5.0
  Al203	10 - 15	Mg0	1.0 - 2.0
  Fe203	2 - 5	Ti02	0.5 - 1.0
  Na20	2 - 4	K20	2.0 - 5.0

  *Loss on Ignition 2 – 5%

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