美(mei)國二氧(yang)化(hua)矽(gui)納米顆粒(li)

美國二氧(yang)化(hua)矽(gui)納米顆粒(li) 40nm-2000nm
供(gong)應(ying)商(shang)：瑞(rui)貝貿(mao)易有(you)限(xian)公司

產(chan)品(pin)介(jie)紹：
   二氧(yang)化(hua)矽(gui)納米顆粒(li)是顆粒尺寸(cun)標(biao)準和(he)球形。矽微(wei)珠高(gao)度，單分(fen)散(san)，NIST追蹤(zong)，尺寸(cun)標(biao)準，從(cong)40納米到(dao)2微米（2000納米）。從(cong)40nm到(dao)102nm的二氧(yang)化(hua)矽(gui)顆(ke)粒(li)懸(xuan)浮在乙(yi)醇(chun)中(zhong)以(yi)保(bao)持單分(fen)散(san)性(xing)，而從(cong)105nm到(dao)2000nm的二氧(yang)化(hua)矽(gui)顆(ke)粒(li)懸(xuan)浮在15ml的去(qu)離子(zi)水(shui)溶液中(zhong)。二氧(yang)化(hua)矽(gui)顆(ke)粒(li)的折射率(lv)非常接(jie)近聚苯乙(yi)烯乳(ru)膠(jiao)球，這使(shi)得二氧(yang)化(hua)矽(gui)顆(ke)粒(li)用(yong)於晶圓檢測(ce)系統(tong)、TEMs和(he)SEMs（使(shi)用高(gao)功(gong)率(lv)激(ji)光(guang)）的尺寸(cun)校(xiao)準。二氧(yang)化(hua)矽(gui)粒(li)徑(jing)標(biao)準用(yong)於藥(yao)物輸(shu)送和生(sheng)產(chan)矽(gui)片(pian)校(xiao)準標(biao)準和(he)矽片汙染(ran)標(biao)準。
    二氧(yang)化(hua)矽(gui)微(wei)球(qiu)也(ye)以5克和10克(ke)的增量，或在工業要求(qiu)的任(ren)何(he)體積(ji)。晶圓檢驗系統(tong)，SSIS，如(ru)KLA Tencor SP1、KLA Tencor SP2、TopCon、ADE和日(ri)立晶圓檢驗系統(tong)以(yi)使(shi)用二氧(yang)化(hua)矽(gui)顆(ke)粒(li)進行(xing)尺寸(cun)校(xiao)準。矽(gui)納米球的粒徑為40納米至2微(wei)米，用於(yu)校(xiao)準相應(ying)晶圓檢測(ce)系統(tong)和(he)激(ji)光(guang)粒子計(ji)數器(qi)的粒徑響(xiang)應(ying)曲(qu)線。提供(gong)波特蘭水(shui)泥(ni)、CMP泥(ni)漿、藥(yao)物遞(di)送的行業使(shi)用30nm至(zhi)2微(wei)米的二氧(yang)化(hua)矽(gui)顆(ke)粒(li)。二氧(yang)化(hua)矽(gui)微(wei)球(qiu)被(bei)生長成且(qie)重復(fu)的大小峰(feng)。二氧(yang)化(hua)矽(gui)納米顆粒(li)是球形的，並且是按(an)照特(te)的直(zhi)徑(jing)人工制造(zao)的，與(yu)大多數其(qi)他工藝顆(ke)粒壹(yi)樣(yang)，二氧(yang)化(hua)矽(gui)納米顆粒(li)是非球形(xing)的，並且大小不(bu)均(jun)勻(yun)。  
產(chan)品(pin)型號： 

美(mei)國二氧(yang)化(hua)矽(gui)納米顆粒(li) 40nm-2000nm