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簡(jian)要(yao)描述(shu):晶(jing)圓(yuan)表面用(yong)二(er)氧化(hua)矽(gui):MSP Corporation 的 NanoSilica™Size Standards 是 SiO2顆(ke)粒(li)的濃縮水(shui)懸(xuan)浮液,具(ju)有高度(du)均勻(yun)的尺寸分布。這(zhe)些粒(li)徑(jing)標(biao)準目(mu)前提(ti)供(gong)的標(biao)稱尺寸範圍為 15 至 200 nm,非常適(shi)合為(wei)下(xia)壹(yi)代晶(jing)圓(yuan)和光(guang)掩模檢測系統生(sheng)產(chan)高質(zhi)量校(xiao)準標(biao)準。
產(chan)品型(xing)號(hao):
廠(chang)商性(xing)質:經銷商
更新時(shi)間(jian):2022-08-08
訪(fang) 問 量(liang):2456相關(guan)文章(zhang)
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晶(jing)圓(yuan)表面用(yong)二(er)氧化(hua)矽(gui)

晶(jing)圓(yuan)表面用(yong)二(er)氧化(hua)矽(gui)
納米(mi)二(er)氧化(hua)矽(gui)™尺寸標(biao)準
MSP Corporation 的 NanoSilica™Size Standards 是 SiO2顆(ke)粒(li)的濃縮水(shui)懸(xuan)浮液,具(ju)有高度(du)均勻(yun)的尺寸分布。
這(zhe)些粒(li)徑(jing)標(biao)準目(mu)前提(ti)供(gong)的標(biao)稱尺寸範圍為 15 至(zhi) 200 nm,非常適(shi)合為(wei)下(xia)壹(yi)代晶(jing)圓(yuan)和光(guang)掩模檢測系統生(sheng)產(chan)高質(zhi)量校(xiao)準標(biao)準。
雖然 MSP 23000NPT 系(xi)列(lie)和 2300G3 系(xi)列(lie)粒子沈(chen)積系統為(wei)表面缺陷(xian)校準標(biao)準的生(sheng)產(chan)提(ti)供(gong)了(le)最佳(jia)結(jie)果,但較舊(jiu)的 MSP 系統和其他(ta)制造商的系統也(ye)適用(yong)於納(na)米(mi)二(er)氧化(hua)矽(gui)尺寸標(biao)準。
特(te)征(zheng)
+ 極其均(jun)勻的尺寸分布
我(wo)們的納米(mi)二(er)氧化(hua)矽(gui)尺寸標(biao)準采(cai)用(yong)獲得(de)**的 SiO2合成(cheng)工(gong)藝(yi)開發(fa),其尺寸分布比(bi)市售(shou)的 PSL 球更窄(zhai)。
+ 使(shi)用(yong) SI 可(ke)追(zhui)溯(su)性(xing)測量的峰直徑(jing)
允許產(chan)量提(ti)高和計(ji)量(liang)小組根(gen)據(ju) ISO 9000 標(biao)準和 SEMI 指(zhi)南(nan)建(jian)立其檢查(zha)和缺陷(xian)審查(zha)方法(fa)的可(ke)追(zhui)溯(su)性(xing)。
+ 受到強(qiang)烈(lie) DUV 輻(fu)射(she)時(shi)穩定(ding)
MSP 的 SiO2顆(ke)粒(li)在暴(bao)露於 DUV 輻(fu)射(she)時(shi)不會降(jiang)解(jie),這(zhe)與 PSL 球(qiu)體(ti)不同,PSL 球(qiu)體(ti)的尺寸會(hui)減小。
+ 易於使(shi)用(yong)
NanoSilica 顆(ke)粒(li)懸(xuan)浮液在滴(di)管(guan)瓶(ping)中(zhong)提(ti)供(gong),以(yi)便(bian)在您的應用(yong)中(zhong)混合具(ju)有適(shi)當數(shu)量濃度的懸(xuan)浮液時(shi)使(shi)用(yong)方便(bian)。
+ 高粒(li)子濃度
壹(yi)些(xie)應(ying)用(yong)需要(yao)高濃度。 MSP 的顆(ke)粒(li)濃度是(shi)業(ye)內(nei)最(zui)高的之(zhi)壹(yi)。
+ 輕(qing)松(song)辨別(bie)模態(峰值(zhi))直徑(jing)
+ 避免由(you)於平(ping)均和峰值(zhi)直徑(jing)值(zhi)之(zhi)間(jian)的差異(yi)而導致的差異(yi)
+ 制備(bei)適(shi)用(yong)於效率(lv)相對較高或(huo)較低(di)的氣溶(rong)膠產(chan)生(sheng)裝置的稀釋(shi)懸(xuan)浮液
+ 為(wei)***的檢測工具(ju)創建(jian)持久的校準標(biao)準
+ 消(xiao)耗(hao)更少(shao)的材(cai)料;存錢
+ 隨附(fu)校準和可(ke)追(zhui)溯(su)性(xing)證書(shu)以(yi)及帶有(you)處理(li)和處置說(shuo)明的安全(quan)數(shu)據(ju)表 (SDS)
型(xing)號(hao) |
目(mu)錄(lu)編號(hao) | 標(biao)稱粒徑(jing) [nm] | 認證1峰(feng)值(zhi)直徑(jing) [nm] | 大約(yue) Size Dist. Width, RFWHM2
|
1044 | NS-0015A | 15 | 14-16 | 13% |
1046 | NS-0018A | 18 | 17-19 | 12% |
1047 | NS-0020A | 20 | 19-21 | 11% |
1048 | NS-0024A | 24 | 23-25 | 10% |
1075 | NS-0027A | 27 | 26-28 | 9% |
1049 | NS-0030A | 30 | 29-31 | 8% |
1079 | NS-0032A | 32 | 31-33 | 7% |
1062 | NS-0035A | 35 | 34-36 | 7% |
1076 | NS-0037A | 37 | 36-38 | 6% |
1051 | NS-0040A | 40 | 39-41 | 6% |
1063 | NS-0045A | 45 | 44-46 | 5% |
1052 | NS-0050A | 50 | 49-51 | 5% |
1077 | NS-0055A | 55 | 53-57 | 5% |
1053 | NS-0060A | 60 | 58-62 | 4% |
1067 | NS-0064A | 64 | 62-66 | 4% |
1054 | NS-0070A | 70 | 68-72 | 4% |
1068 | NS-0074A | 74 | 72-76 | 4% |
1055 | NS-0080A | 80 | 78-82 | 4% |
1069 | NS-0084A | 84 | 82-86 | 4% |
1057 | NS-0090A | 90 | 88-92 | 4% |
1070 | NS-0094A | 94 | 92-96 | 4% |
1058 | NS-0100A | 100 | 98-102 | 4% |
1071 | NS-0104A | 104 | 102-106 | 4% |
1059 | NS-0125A | 125 | 120-130 | 4% |
1060 | NS-0150A | 150 | 145-155 | 4% |
1061 | NS-0200A | 200 | 190-210 | 4% |
1給(gei)定(ding)目(mu)錄(lu)號(hao)的認證直徑(jing)將(jiang)在(zai)規(gui)定(ding)範圍內提(ti)供(gong)。
2相對半高寬(kuan)(半高全(quan)寬(kuan)); FWHM 除(chu)以模態直徑(jing)。
粒子組成 | 無定(ding)形(xing)SiO2 |
粒子(zi)密度(du) | 1.9 克/厘(li)米(mi)3 |
折射率(lv) | 633納米(mi)時(shi)為(wei)1.41英寸 |
體積 | 5 毫(hao)升 |
專註(zhu) | 每毫(hao)升 1013至 1015顆(ke)粒(li) |
截止日(ri)期 | ≥ 24 個月(yue) |
添(tian)加劑(ji) | 乙(yi)醇(按(an)質量計(ji) 5-20%) 有機(ji)穩定(ding)劑(ji)(<0.1% 質(zhi)量) |
儲(chu)存和處理(li) | 在(zai)室(shi)溫下(xia)儲存(參(can)見(jian)校(xiao)準和可(ke)追(zhui)溯(su)性(xing)證書(shu) 更多詳情(qing)。 |

NanoSilica™ 微粒(li)子(zi)標(biao)準溶(rong)液是(shi)由(you)MSP Corporation制作(zuo)的高度(du)均勻(yun)尺寸SiO2微粒(li)子(zi)濃縮水(shui)溶(rong)液,微粒(li)子(zi)尺寸從18nm到200nm都可(ke)選(xuan)擇,是市(shi)面上***、高質(zhi)量的校正(zheng)標(biao)準,適用(yong)於最(zui)新壹(yi)代的晶(jing)圓(yuan)表面汙染/缺(que)陷(xian)檢查(zha)系統及光(guang)罩(zhao)檢查(zha)系統。
***的半導體(ti)檢查技術(shu)已(yi)經發(fa)展到小於30nm,以(yi)往使(shi)用(yong)Polystyrene latex (PSL)球形(xing)化(hua)粒(li)子即可(ke)做(zuo)晶(jing)圓(yuan)表面汙染/缺(que)陷(xian)檢查(zha)系統及光(guang)罩(zhao)檢查(zha)系統的校正(zheng),但新壹(yi)代的檢查系統使(shi)用(yong)到Deep ultraviolet (DUV) or Extreme ultraviolet (EUV)才能檢(jian)查小於20nm的汙染或(huo)缺(que)陷(xian),當UV光(guang)重復(fu)打在(zai)PSL球(qiu)形(xing)化(hua)粒(li)子上,將(jiang)影(ying)響到(dao)PSL球(qiu)形(xing)化(hua)粒(li)子的質量; 由(you)於SiO2微粒(li)子(zi)在(zai)DUV及EUV的照射下擁(yong)有穩定(ding)的質量,因此SiO2微粒(li)子(zi)是(shi)最佳的替代產(chan)品。
NanoSilica™ 微粒(li)子(zi)標(biao)準溶(rong)液是(shi)使(shi)用(yong)有**的SiO2合成技術(shu),可(ke)以(yi)做(zuo)到(dao)如(ru)PSL球(qiu)形(xing)化(hua)粒(li)子壹樣的尺寸分布,從目(mu)前最(zui)小的微粒(li)子(zi)尺寸來看(kan),NanoSilica™ 微粒(li)子(zi)標(biao)準溶(rong)液是(shi)尺寸最(zui)均(jun)勻,適合做(zuo)尺寸大(da)小峰值(zhi)的量測的工具(ju)。
NIST-traceable NanoSilica™ 微粒(li)子(zi)標(biao)準溶(rong)液是(shi)MSP Corporation透過(guo)National Institute of Standards and Technology (NIST)追(zhui)溯(su)到(dao)標(biao)準單位的產(chan)品,加上(shang)ISO 9000與SEMI的認證,讓良率(lv)提(ti)升及表面檢查和缺陷(xian)評估(gu)有所(suo)依據(ju)。
NanoSilica™ 微粒(li)子(zi)標(biao)準溶(rong)液使(shi)用(yong)15-mL滴定(ding),讓使(shi)用(yong)者操(cao)作(zuo)更方便(bian)。每壹瓶(ping)溶(rong)液的卷(juan)標(biao)皆標(biao)示(shi)產(chan)品編號(hao)、生(sheng)產(chan)編號(hao)、微粒(li)子(zi)尺寸峰(feng)值(zhi)、尺寸分布半高寬(kuan)及有效期限,而且提(ti)供(gong)NIST-traceable證(zheng)明書(shu)與(yu)Material Safety Data Sheet (MSDS)說(shuo)明書(shu)。
產(chan)品優(you)勢(shi)
•尺寸大(da)小分布均(jun)勻(yun)
•NIST traceability 的尺寸大(da)小
•DUV及EUV的照射下擁(yong)有穩定(ding)的質量
•高濃縮度微粒(li)子(zi)懸(xuan)浮溶(rong)液
產(chan)品效益
•易於微粒(li)子(zi)撒粒(li)系(xi)統、晶(jing)圓(yuan)表面汙染/缺(que)陷(xian)檢查(zha)系統或(huo)各(ge)類分析儀(yi)器偵測與量測尺寸峰(feng)值(zhi)
•可(ke)避(bi)免(mian)平(ping)均尺寸與(yu)尺寸峰(feng)值(zhi)的差異(yi)性(xing)
•適合(he)氣膠產(chan)生(sheng)設備(bei)使(shi)用(yong)
•提(ti)供(gong)耐久校正(zheng)標(biao)準給(gei)*進(jin)的檢測設備(bei)使(shi)用(yong)
•省錢(qian)而且耗(hao)用(yong)量少(shao)
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